Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

2019
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora
ORCID: 0000-0001-9589-7786 ResearcherID: DRK-0070-2022 Scopus: 57216955375 PBN: 60c2fd6c9543c72336543612

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375

PBN: 60c2fd6c9543c72336543612

Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji

rocznik	l. publ.	książki	fragm.	referaty	artykuły	patenty	mapy	red. czas.	inne
ogółem	4	—	—	1	3	—	—	—	—
2021	3	—	—	1	2	—	—	—	—
2020	1	—	—	—	1	—	—	—	—

język publikacji

rocznik	razem	polskojęzyczne	anglojęzyczne	pozostałe języki
ogółem	4	—	4	—
2021	3	—	3	—
2020	1	—	1	—

kraj wydania

rocznik	razem	publ. krajowe	publ. zagraniczne
ogółem	4	—	4
2021	3	—	3
2020	1	—	1

Lista Filadelfijska

rocznik	razem	publ. z LF	publ. pozostałe
ogółem	4	2	2
2021	3	2	1
2020	1	—	1

punktacja MNiSW

rocznik	razem	publ. z pkt. MNiSW	publ. pozostałe
ogółem	4	3	1
2021	3	2	1
2020	1	1	—

publikacje recenzowane

rocznik	razem	publ. recenzowane	publ. nierecenzowane
ogółem	4	3	1
2021	3	2	1
2020	1	1	—

sortowanie:

1

Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf
keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

2

Data preparation in the digital material representation based 3D cellular automata model of static recrystallization / Ł. MADEJ, M. SITKO, M. MOJŻESZKO, Ł. RYCHŁOWSKI, D. ZYCH, K. PERZYŃSKI, G. CIOS // W: ICTP 2021 [Dokument elektroniczny] : the 13th international conference on the Technology of plasticity : July 25-30, 2021 : virtual event : technical program : [abstracts]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA : The Ohio State University], 2021. — S. 28. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.tms.org/portal/downloads/meetings/2021/ictp2021/ICTP2021_FinalProgram.pdf [2022-03-15]
brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Łukasz Madej, Konrad Perzyński, Mateusz Sitko, Grzegorz Cios, Mateusz Mojżeszko, Dawid Zych

cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

Numerical procedure of three-dimensional reconstruction of ferrite-pearlite microstructure data from SEM/EBSD serial sectioning / Mateusz SITKO, Mateusz MOJŻESZKO, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Piotr BAŁA, Krzysztof MUSZKA, Łukasz MADEJ // Procedia Manufacturing [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2351-9789. — 2020 vol. 47, s. 1217-1222. — Bibliogr. s. 1222, Abstr.. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — ESAFORM 2020 : 23rd international conference on Material Forming : 4th-8th May 2020 : [the first virtual ESAFORM]. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2351978920312439/pdf?md5=683af92612cee0b1cfc6227c8cd249f4&pid=1-s2.0-S2351978920312439-main.pdf
keywords: digital material representation, 3D reconstruction, serial sectioning

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Krzysztof Muszka, Łukasz Madej, Piotr Bała, Mateusz Sitko, Grzegorz Cios, Mateusz Mojżeszko

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.promfg.2020.04.183

4

Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio / Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — Bibliogr. s. 7–8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-08-14. — P. Bała – dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology. — tekst: https://tiny.pl/9twcx
keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372