Wykaz publikacji wybranego autora

Tian Cong, mgr inż.

specjalista

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kair, Katedra Automatyki i Robotyki

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 57204336643

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 4, z ogólnej liczby 4 publikacji Autora


1
2
3
  • [referat, 2018]
  • TytułBinary Classifier for Fault Detection based on KDE and PCA
    AutorzyTian CONG, Jerzy BARANOWSKI
    ŹródłoMMAR 2018 : 23textsuperscript{rd} international conference on Methods and Models in Automation and Robotics : 27–30 August 2018, Międzyzdroje, Poland : abstracts. — Szczecin : ZAPOL Sobczyk Sp.j., [2018]. — S. 90–91
  • keywords: principal component analysis (PCA), binary classifier for fault detection (BaFFle), kernel density estimation (KDE), process condition monitoring

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4