Wykaz publikacji wybranego autora

Tian Cong, mgr inż.

specjalista

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kair, Katedra Automatyki i Robotyki


Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0002-4324-5249 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 57204336643

PBN: 5e7094f3878c28a0473c7bf6




1
  • Binary Classifier for Fault Detection based on KDE and PCA / Tian CONG, Jerzy BARANOWSKI // W: MMAR 2018 : 23\textsuperscript{rd} international conference on Methods and Models in Automation and Robotics : 27–30 August 2018, Międzyzdroje, Poland : abstracts. — Szczecin : ZAPOL Sobczyk Sp.j., [2018]. — ISBN: 978-83-7518-876-9. — S. 90–91. — Pełny tekst na Dysku Flash. — S. 821–825. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 825, Abstr. — ISBN: 978-1-5386-4324-2

  • keywords: PCA, principal component analysis, kernel density estimation, process condition monitoring, KDE, binary classifier for fault detection

    cyfrowy identyfikator dokumentu: