Wykaz publikacji wybranego autora

Tian Cong, mgr inż.

specjalista

Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Biomedical Engineering
WEAIiIB-kair


Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0002-4324-5249 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 57204336643

PBN: 5e7094f3878c28a0473c7bf6



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem514
202111
202011
201911
2018211
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem55
202111
202011
201911
201822
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem514
202111
202011
201911
2018211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem523
202111
202011
201911
201822
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem55
202111
202011
201911
201822
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem55
202111
202011
201911
201822



1
2
3
4
  • Binary Classifier for Fault Detection based on KDE and PCA / Tian CONG, Jerzy BARANOWSKI // W: MMAR 2018 : 23\textsuperscript{rd} international conference on Methods and Models in Automation and Robotics : 27–30 August 2018, Międzyzdroje, Poland : abstracts. — Szczecin : ZAPOL Sobczyk Sp.j., [2018]. — ISBN: 978-83-7518-876-9. — S. 90–91. — Pełny tekst na Dysku Flash. — S. 821–825. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 825, Abstr. — ISBN: 978-1-5386-4324-2

  • keywords: PCA, principal component analysis, kernel density estimation, process condition monitoring, KDE, binary classifier for fault detection

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5