Wykaz publikacji wybranego autora

Tian Cong, mgr inż.

specjalista

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kair, Katedra Automatyki i Robotyki

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 57204336643

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem413
202011
201911
2018211
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem44
202011
201911
201822
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem413
202011
201911
2018211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem44
202011
201911
201822
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem44
202011
201911
201822
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem44
202011
201911
201822



1
2
3
  • Binary Classifier for Fault Detection based on KDE and PCA / Tian CONG, Jerzy BARANOWSKI // W: MMAR 2018 : 23\textsuperscript{rd} international conference on Methods and Models in Automation and Robotics : 27–30 August 2018, Międzyzdroje, Poland : abstracts. — Szczecin : ZAPOL Sobczyk Sp.j., [2018]. — ISBN: 978-83-7518-876-9. — S. 90–91. — Pełny tekst na Dysku Flash. — S. 821–825. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 825, Abstr. — ISBN: 978-1-5386-4324-2

  • keywords: principal component analysis (PCA), binary classifier for fault detection (BaFFle), kernel density estimation (KDE), process condition monitoring

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4