Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 43, z ogólnej liczby 47 publikacji Autora


1
  • [referat, 2021]
  • Tytuł3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyMoritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense
    ŹródłoVirtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
5
  • [referat, 2021]
  • TytułAdaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite?
    AutorzyR. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki
    ŹródłoICOTOMtextsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2023]
  • TytułAdvanced diffraction mapping of nitride semiconductor thin films and nanostructures : [abstract]
    AutorzyJ. Bruckbauer, G. Ferenczi, R. McDermott, K. Hiller, B. Hourahine, A. WINKELMANN, C. Trager-Cowan
    ŹródłoEMAS 2023 [Dokument elektroniczny] : 17textsuperscript{th} European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 7–11 May 2023, Krakow, Poland : book of tutorials and abstracts. — Zürich : European Microbeam Analysis Society eV (EMAS), cop. 2023. — S. 306–308
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
9
10
11
  • [referat, 2023]
  • TytułBadania EBSD struktury domenowej faz międzymetalicznych Cu-Sn po przemianach fazowych
    AutorzyWINKELMANN A.
    ŹródłoSIM 2023 [Dokument elektroniczny] : 50 Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków, 27–29 IX 2023 / opiekun naukowy konferencji Piotr Bała ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza], [2023]. — S. 43
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
14
15
  • [artykuł w czasopiśmie, 2022]
  • TytułCorrelation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel
    AutorzyThomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

16
17
18
19
20
21
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułEmitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyO. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense
    ŹródłoNew Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

22
23
24
25
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułImaging threading dislocations and surface steps in nitride thin films using electron backscatter diffraction
    AutorzyKieran P. Hiller, Aimo WINKELMANN, Ben Hourahine, Bohdan Starosta, Aeshah Alasmari, Peng Feng, Tao Wang, Peter J. Parbrook, Vitaly Z. Zubialevich, Sylvia Hagedorn, Sebastian Walde, Markus Weyers, Pierre-Marie Coulon, Philip A. Shields, Jochen Bruckbauer, Carol Trager-Cowan
    ŹródłoMicroscopy and Microanalysis. — 2023 vol. 29 iss. 6, s. 1879–1888. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/6/1879/54730825/ozad118.pdf
  • keywords: SEM, dislocations, EBSD, nitrides, extended defects, thin film semiconductors

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad118