Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 32, z ogólnej liczby 36 publikacji Autora


1
  • [referat, 2021]
  • Tytuł3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyMoritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense
    ŹródłoVirtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • [referat, 2021]
  • TytułAdaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite?
    AutorzyR. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki
    ŹródłoICOTOMtextsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
7
8
9
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2022]
  • TytułCorrelation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel
    AutorzyThomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

11
12
13
14
15
16
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułEmitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyO. Fedchenko1, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense
    ŹródłoNew Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

17
18
  • [referat, 2021]
  • TytułInvestigation of EBSD post-processing techniques for aluminium-nitride thin films grown on nano-patterned sapphire : [abstract]
    AutorzyR. McDermott, [et al.], A. WINKELMANN
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [31–32]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
21
  • [referat, 2020]
  • TytułMethods for quasicrystals analysis using EBSD
    AutorzyGrzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 48
  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • [referat, 2021]
  • TytułQuantitative orientation data from thin film GaN using virtual diode and centre of mass imaging : [abstract]
    AutorzyK. Hiller, J. Bruckbauer, A. WINKELMANN, B. Hourahine, P. J. Parbrook, C. Trager-Cowan
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [29]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • [referat, 2021]
  • TytułQuasicrystal orientation determination using EBSD : [abstract]
    AutorzyGrzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [33]
  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • [referat, 2022]
  • TytułRecent advances in EBSD
    AutorzyG. CIOS, T. TOKARSKI, A. WINKELMANN, P. BAŁA
    Źródło13textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 53–54
  • keywords: EBSD, crystallography, microanalysis

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25