Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 32, z ogólnej liczby 36 publikacji Autora


1
  • [referat, 2021]
  • Tytuł3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyMoritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense
    ŹródłoVirtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]
2
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułAbsolute structure from scanning electron microscopy
    AutorzyUlrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN
    ŹródłoScientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf
4
  • [referat, 2021]
  • TytułAdaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite?
    AutorzyR. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki
    ŹródłoICOTOMtextsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114
5
  • [referat w czasopiśmie, 2020]
  • TytułAdvances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope
    AutorzyC. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN
    ŹródłoIOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf
6
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułApproximant-based orientation determination of quasicrystals using electron backscatter diffraction
    AutorzyGrzegorz CIOS, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Tomasz TOKARSKI, Ralf Hielscher, Radosław STRZAŁKA, Ireneusz BUGAŃSKI, Janusz WOLNY, Piotr BAŁA
    ŹródłoUltramicroscopy. — 2020 vol. 218 art. no. 113093, s. 1–10
7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułAssignment of enantiomorphs for the chiral allotrope $beta-Mn$ by diffraction methods
    AutorzyUlrich Burkhardt, Aimo WINKELMANN, Horst Borrmann, Andreea Dumitriu, Markus König, Grzegorz CIOS, Yuri Grin
    ŹródłoScience Advances. — 2021 vol. 7 no. 20 art. no. eabg0868, s. 1–10. — tekst: https://advances.sciencemag.org/content/7/20/eabg0868/tab-pdf
8
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułBulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyM. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.]
    ŹródłoPhysical Review. B. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129
9
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2022]
  • TytułCorrelation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel
    AutorzyThomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136
11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułCrystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf
12
13
  • [artykuł w czasopiśmie, 2022]
  • TytułEarly martensitic transformation in a 0.74C–1.15Mn–1.08Cr high carbon steel
    AutorzyThomas Kohne, Tuerdi Maimaitiyili, Aimo WINKELMANN, Emad Maawad, Peter Hedström, Annika Borgenstam
    ŹródłoMetallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials. — 2022 vol. 53 iss. 8, s. 3034–3043. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-022-06724-z.pdf
14
15
  • [artykuł w czasopiśmie, 2019]
  • TytułEffects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction
    AutorzyM. Vos, A. WINKELMANN
    ŹródłoNew Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf
16
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułEmitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyO. Fedchenko1, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense
    ŹródłoNew Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf
17
18
  • [referat, 2021]
  • TytułInvestigation of EBSD post-processing techniques for aluminium-nitride thin films grown on nano-patterned sapphire : [abstract]
    AutorzyR. McDermott, [et al.], A. WINKELMANN
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [31–32]
19
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułKikuchi pattern simulations of backscattered and transmitted electrons
    AutorzyAimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA, Ben Hourahine, Carol Trager-Cowan,
    ŹródłoJournal of Microscopy. — 2021 vol. 284 iss. 2, s. 157–184. — tekst: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1111/jmi.13051
20
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułManual measurement of angles in backscattered and transmission Kikuchi diffraction patterns
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2020 vol. 53 pt. 2, s. 435–443. — tekst: http://journals.iucr.org/j/issues/2020/02/00/nb5262/nb5262.pdf
21
  • [referat, 2020]
  • TytułMethods for quasicrystals analysis using EBSD
    AutorzyGrzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 48
22
  • [referat, 2021]
  • TytułQuantitative orientation data from thin film GaN using virtual diode and centre of mass imaging : [abstract]
    AutorzyK. Hiller, J. Bruckbauer, A. WINKELMANN, B. Hourahine, P. J. Parbrook, C. Trager-Cowan
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [29]
23
  • [referat, 2021]
  • TytułQuasicrystal orientation determination using EBSD : [abstract]
    AutorzyGrzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoEBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [33]
24
  • [referat, 2022]
  • TytułRecent advances in EBSD
    AutorzyG. CIOS, T. TOKARSKI, A. WINKELMANN, P. BAŁA
    Źródło13textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 53–54
25
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułRefined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps
    AutorzyAimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf