Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2

  • Bulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy / M. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — Bibliogr. s. 045129-8–045129-10. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-19. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.104.045129

3

  • Correlating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites / Yongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova // ACS Nano ; ISSN 1936-0851. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — Bibliogr. s. 7146–7148, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-03-26. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

    orcid iD

  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

4

  • Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Grzegorz Cios, Łukasz Rychłowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

5

  • Kikuchi pattern simulations of backscattered and transmitted electrons / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA, Ben Hourahine, Carol Trager-Cowan // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2021 vol. 284 iss. 2, s. 157–184. — Bibliogr. s. 179–184, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-18. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Department of Physics, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow, UK. — tekst: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1111/jmi.13051

    orcid iD

  • keywords: EBSD, electron diffraction, pattern matching, Kikuchi diffraction

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/jmi.13051

6

  • Site-specific atomic order and band structure tailoring in the diluted magnetic semiconductor (In,Ga,Mn)As / K. Medjanik, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 103 iss. 7 art. no. 075107, s. 075107-1–075107-13. — Bibliogr. s. 075107-11–075107-13. — Publikacja dostępna online od: 2021-02-02. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.103.075107

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.103.075107

7
8

  • Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio / Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — Bibliogr. s. 7–8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-08-14. — P. Bała – dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology. — tekst: https://tiny.pl/9twcx

    orcid iD

  • keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Łukasz Rychłowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372