Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • About the reliability of EBSD measurements: data enhancement / G. Nolze, A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012018, s. 1–13. — Bibliogr. s. 13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop - 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012018/pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012018

2

  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

3

  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasi crystals, approximants, dynamical simulation

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Structure of twin boundaries in modulated Ni-Mn-Ga shape memory single crystals / R. Chulist, K. NALEPKA, A.  Sozinov, G. CIOS, A. WINKELMANN // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 47

  • keywords: EBSD, modulation, twinning, Ni–Mn–Ga

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kinga Nalepka, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu: