Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • About the reliability of EBSD measurements: data enhancement / G. Nolze, A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012018, s. 1–13. — Bibliogr. s. 13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop - 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012018/pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012018

2

  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

3

  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

4
5
6

  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

    orcid iD

  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

7

  • Improving EBSD precision by orientation refinement with full pattern matching / A. WINKELMANN, B. M. Jablon, V. S. Tong, C. Trager-Cowan, K. P. Mingard // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2020 vol. 277 iss. 2, s. 79–92. — Bibliogr. s. 91–92, Summ.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-30. — A. Winkelmann - dod afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, U. K.. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4ro00f7.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1111/jmi.12870

    orcid iD

  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, orientation mapping, Kikuchi patterns

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/jmi.12870

8
9

  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasi crystals, approximants, dynamical simulation

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10

  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

    orcid iD

  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816

11

  • Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, A. Alasmari, W. Avis, J. Bruckbauer, P. R. Edwards, G. Ferenczi, B. Hourahine, A. Kotzai, S. Kraeusel, G. Kusch, R. W. Martin, R. McDermott, G. Naresh-Kumar, M. Nouf-Allehiani, E. Pascal, D. Thomson, S. Vespucci, M. D. Smith, P. J. Parbrook, J. Enslin, F. Mehnke, C. Kuhn, T. Wernicke, M. Kneissl, S. Hagedorn, A. Knauer, S. Walde, M. Weyers, P-M. Coulon, P. A. Shields, J. Bai, Y Gong, L. Jiu, Y. Zhang, R. M. Smith, T. Wang, A. WINKELMANN // Semiconductor Science and Technology ; ISSN 0268-1242. — 2020 vol. 35 no. 5 art. no. 054001, s. 1–15. — Bibliogr. s. 13–15, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-25. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathelyde, United Kingdom. — 21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XXI) : 9–12 April 2019, Cambridge, UK. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab75a5/pdf

    orcid iD

  • keywords: SEM, EBSD, CL, ECCI, nitride, extended defects

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1361-6641/ab75a5

12

  • Structure of twin boundaries in modulated Ni-Mn-Ga shape memory single crystals / R. Chulist, K. NALEPKA, A.  Sozinov, G. CIOS, A. WINKELMANN // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 47

  • keywords: EBSD, modulation, twinning, Ni–Mn–Ga

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kinga Nalepka, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu: