Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Academic Centre for Materials and Nanotechnology
ACMIN-zim


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem431231
20231138
2022514
20211468
202012210
201911
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem43142
202311110
202255
20211414
20201212
201911
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem43538
20231129
2022514
20211414
202012210
201911
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem432914
20231183
2022541
20211486
20201284
201911
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem432914
20231165
2022541
20211486
202012102
201911
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem433013
20231174
2022541
20211486
202012102
201911



1
  • 3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / Moritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense // W: Virtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://surfacescience21.dpg-tagungen.de/bilder/programm.pdf [2021-10-08]. — Bibliogr. s. 58

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • About the reliability of EBSD measurements: data enhancement / G. Nolze, A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012018, s. 1–13. — Bibliogr. s. 13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop - 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012018/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012018

3
  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

4
  • Active sites of Te-hyperdoped silicon by hard x-ray photoelectron spectroscopy / Moritz Hoesch, Olena Fedchenko, Mao Wang, Christoph Schlueter, Dmitrii Potorochin, Katerina Medjanik, Sergey Babenkov, Anca S. Ciobanu, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Shengqiang Zhou, Manfred Helm, Gerd Schönhense // Applied Physics Letters ; ISSN 0003-6951. — 2023 vol. 122 iss. 25 art. no. 252108, s. 252108-1–252108-6. — Bibliogr. s. 252108-5–252108-6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-06-23. — tekst: https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/doi/10.1063/5.0148430/18016135/252108_1_5.0148430.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1063/5.0148430

5
  • Adaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite? / R. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki // W: ICOTOM\textsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://icotom19.com/ [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Advanced diffraction mapping of nitride semiconductor thin films and nanostructures : [abstract] / J. Bruckbauer, G. Ferenczi, R. McDermott, K. Hiller, B. Hourahine, A. WINKELMANN, C. Trager-Cowan // W: EMAS 2023 [Dokument elektroniczny] : 17\textsuperscript{th} European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 7–11 May 2023, Krakow, Poland : book of tutorials and abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Zürich : European Microbeam Analysis Society eV (EMAS), cop. 2023. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-90-8227-6961. — S. 306–308. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 308. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, Great Britain

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

8
9
10
11
  • Badania EBSD struktury domenowej faz międzymetalicznych Cu-Sn po przemianach fazowychEBSD investigation of domain structures after phase transformations in Cu-Sn intermetallics / WINKELMANN A. // W: SIM 2023 [Dokument elektroniczny] : 50 Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków, 27–29 IX 2023 / opiekun naukowy konferencji Piotr Bała ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza], [2023]. — S. 43. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://s.agh.edu.pl/77XIG [2023-10-12]. — Afiliacja autora: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Bulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy / M. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — Bibliogr. s. 045129-8–045129-10. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-19. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.104.045129

13
  • Circular dichroism in hard X-ray photoelectron diffraction observed by time-of-flight momentum microscopy / O. Tkach, T.-P. Vo, O. Fedchenko, K. Medjanik, Y. Lytvynenko, S. Babenkov, D. Vasilyev, Q. L. Nguyen, T. R. F. Peixoto, A. Gloskowskii, C. Schlueter, S. Chernov, M. Hoesch, D. Kutnyakhov, M. Scholz, L. Wenthaus, N. Wind, S. Marotzke, A. WINKELMANN, K. Rossnagel, J. Minár, H.-J. Elmers, G. Schönhense // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2023 vol. 250 art. no. 113750, s. 1–11. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-05-06. — A. Winkelmann - afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechn., Univ. of Science and Technology. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399123000670/pdfft?md5=7436b62289e41f726a1e0cf3589a94d9&pid=1-s2.0-S0304399123000670-main.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2023.113750

14
  • Correlating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites / Yongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova // ACS Nano ; ISSN 1936-0851. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — Bibliogr. s. 7146–7148, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-03-26. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

    orcid iD
  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

15
  • Correlation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel / Thomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-09-25. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136

    orcid iD
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

16
  • Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

    orcid iD
  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

17
18
  • Early martensitic transformation in a 0.74C–1.15Mn–1.08Cr high carbon steel / Thomas Kohne, Tuerdi Maimaitiyili, Aimo WINKELMANN, Emad Maawad, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Metallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials ; ISSN 1073-5623. — 2022 vol. 53 iss. 8, s. 3034–3043. — Bibliogr. s. 3042–3043, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-06-04. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-022-06724-z.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11661-022-06724-z

19
20
  • Effects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction / M. Vos, A. WINKELMANN // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 18–19, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-12-13. — A. Winkelmann - pierwsza afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, Kikuchi pattern, electron energy loss

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/ab5cd1

21
  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

22
  • Enantiomorph conversion in single crystals of the Weyl semimetal CoSi / Wilder Carrillo-Cabrera, Paul Simon, Marcus Schmidt, Markus König, Horst Borrmann, Aimo WINKELMANN, Ulrich Burkhardt, Yuri Grin // Communications Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2662-4443. — 2023 vol. 4 iss. 1 art. no. 109, s. 1–9. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–9, Abstr.. — tekst: https://www.nature.com/articles/s43246-023-00434-8.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s43246-023-00434-8

23
  • Evolution of martensite tetragonality in high-carbon steels revealed by \emph{in situ} high-energy X-ray diffraction / Thomas Kohne, Johan Fahlkrans, Albin Stormvinter, Emad Maawad, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Metallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials ; ISSN 1073-5623. — 2023 vol. 54 iss. 4, s. 1083–1100. — Bibliogr. s. 1099–1100, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-06. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-022-06948-z.pdf?pdf=button

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11661-022-06948-z

24
25
  • Imaging threading dislocations and surface steps in nitride thin films using electron backscatter diffraction / Kieran P. Hiller, Aimo WINKELMANN, Ben Hourahine, Bohdan Starosta, Aeshah Alasmari, Peng Feng, Tao Wang, Peter J. Parbrook, Vitaly Z. Zubialevich, Sylvia Hagedorn, Sebastian Walde, Markus Weyers, Pierre-Marie Coulon, Philip A. Shields, Jochen Bruckbauer, Carol Trager-Cowan // Microscopy and Microanalysis ; ISSN 1431-9276. — 2023 vol. 29 iss. 6, s. 1879–1888. — Bibliogr. s. 1887–1888, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-11-08. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Advanced Materials Diffraction Lab, Department of Physics, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/6/1879/54730825/ozad118.pdf

    orcid iD
  • keywords: SEM, dislocations, EBSD, nitrides, extended defects, thin film semiconductors

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad118