Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem32923
2022514
20211468
202012210
201911
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem3232
202255
20211414
20201212
201911
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem32329
2022514
20211414
202012210
201911
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem322111
2022541
20211486
20201284
201911
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem32239
2022541
20211486
202012102
201911
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem32239
2022541
20211486
202012102
201911



1
  • 3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / Moritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense // W: Virtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://surfacescience21.dpg-tagungen.de/bilder/programm.pdf [2021-10-08]. — Bibliogr. s. 58

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • About the reliability of EBSD measurements: data enhancement / G. Nolze, A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012018, s. 1–13. — Bibliogr. s. 13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop - 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012018/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012018

3
  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

4
  • Adaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite? / R. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki // W: ICOTOM\textsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://icotom19.com/ [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

6
  • Approximant-based orientation determination of quasicrystals using electron backscatter diffraction / Grzegorz CIOS, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Tomasz TOKARSKI, Ralf Hielscher, Radosław STRZAŁKA, Ireneusz BUGAŃSKI, Janusz WOLNY, Piotr BAŁA // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2020 vol. 218 art. no. 113093, s. 1–10. — Bibliogr. s. 9–10, Abstr.. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom ; P. Bała - dod. afiliacja: ACMIN AGH

    orcid iD
  • keywords: EBSD, quasicrystal, crystal orientation, data processing, approximant

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2020.113093

7
8
  • Bulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy / M. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — Bibliogr. s. 045129-8–045129-10. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-19. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.104.045129

9
  • Correlating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites / Yongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova // ACS Nano ; ISSN 1936-0851. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — Bibliogr. s. 7146–7148, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-03-26. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

    orcid iD
  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

10
  • Correlation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel / Thomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-09-25. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136

    orcid iD
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

11
  • Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

    orcid iD
  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

12
13
  • Early martensitic transformation in a 0.74C–1.15Mn–1.08Cr high carbon steel / Thomas Kohne, Tuerdi Maimaitiyili, Aimo WINKELMANN, Emad Maawad, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Metallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials ; ISSN 1073-5623. — 2022 vol. 53 iss. 8, s. 3034–3043. — Bibliogr. s. 3042–3043, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-06-04. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-022-06724-z.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11661-022-06724-z

14
15
  • Effects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction / M. Vos, A. WINKELMANN // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 18–19, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-12-13. — A. Winkelmann - pierwsza afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, Kikuchi pattern, electron energy loss

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/ab5cd1

16
  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko1, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

17
  • Improving EBSD precision by orientation refinement with full pattern matching / A. WINKELMANN, B. M. Jablon, V. S. Tong, C. Trager-Cowan, K. P. Mingard // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2020 vol. 277 iss. 2, s. 79–92. — Bibliogr. s. 91–92, Summ.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-30. — A. Winkelmann - dod afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, U. K.. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4ro00f7.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1111/jmi.12870

    orcid iD
  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, orientation mapping, Kikuchi patterns

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/jmi.12870

18
  • Investigation of EBSD post-processing techniques for aluminium-nitride thin films grown on nano-patterned sapphire : [abstract] / R. McDermott, [et al.], A. WINKELMANN // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [31–32]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-25]. — Bibliogr. s. [31–32]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Kikuchi pattern simulations of backscattered and transmitted electrons / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA, Ben Hourahine, Carol Trager-Cowan, // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2021 vol. 284 iss. 2, s. 157–184. — Bibliogr. s. 179–184, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-18. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Department of Physics, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow, UK. — tekst: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1111/jmi.13051

    orcid iD
  • keywords: EBSD, electron diffraction, pattern matching, Kikuchi diffraction

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/jmi.13051

20
21
  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • Quantitative orientation data from thin film GaN using virtual diode and centre of mass imaging : [abstract] / K. Hiller, J. Bruckbauer, A. WINKELMANN, B. Hourahine, P. J. Parbrook, C. Trager-Cowan // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [29]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-25]. — Bibliogr. s. [29]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • Quasicrystal orientation determination using EBSD : [abstract] / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [33]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom; P. Bała - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Recent advances in EBSD / G. CIOS, T. TOKARSKI, A. WINKELMANN, P. BAŁA // W: 13\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 53–54. — Bibliogr. s. 54

  • keywords: EBSD, crystallography, microanalysis

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

    orcid iD
  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816