Wykaz publikacji wybranego autora

Anna Kozioł, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5008-6047 orcid iD

ResearcherID: O-5472-2015

Scopus: 57044388300

PBN: 5e70938d878c28a0473ac9ba

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Methodology of automation process of wafer tests / Piotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ // W: MIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22\textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63578-06-0. — S. 139. — Abstr.. — Pełny tekst na CD-ROMie. — eISBN 978-83-63578-06-0. — S. 530–533. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 533, Abstr.

  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579

2
  • Single software platform used for high speed data transfer implementation in a 65k pixel camera working in single photon counting mode / P. MAJ, K. KASIŃSKI, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, A. KOZIOŁ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2015 vol. 10 iss. 12 art. no. C12025, s. 1–7. — Bibliogr. s. 7, Abstr.. — 17\textsuperscript{th} international workshop on Radiation imaging detectors : 28 June – 2 July 2015, Hamburg, Germany. — tekst: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/10/12/C12025/pdf

  • keywords: data acquisition concepts, architecture, modular electronics, algorithms, databases, data acquisition circuits, hardware, detector control systems, detector monitoring, experiment monitoring, slow-control systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/10/12/C12025