Wykaz publikacji wybranego autora

Anna Kozioł, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5008-6047 orcid iD

ResearcherID: O-5472-2015

Scopus: 57044388300

PBN: 5e70938d878c28a0473ac9ba

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Methodology of automation process of wafer tests / Piotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ // W: MIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22\textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63578-06-0. — S. 139. — Abstr.. — Pełny tekst na CD-ROMie. — eISBN 978-83-63578-06-0. — S. 530–533. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 533, Abstr.

  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Leonard Gryboś, Piotr Maj, Robert Szczygieł, Aleksandra Krzyżanowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579