Wykaz publikacji wybranego autora

Anna Kozioł, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5008-6047 orcid iD

ResearcherID: O-5472-2015

Scopus: 57044388300

PBN: 5e70938d878c28a0473ac9ba

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 7.3kfps readout solution for 65k pixel X-Ray camera working in zero dead-time mode / Anna KOZIOŁ, Piotr MAJ // W: MIXDES 2016 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of integrated circuits and systems : Łódź, Poland, June 23–25, 2016 : book of abstracts of 23\textsuperscript{rd} international conference / ed. by Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2016. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-8-3635-7808-4. — S. 46. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Pełny tekst pod adresem {http://wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp==7529712}. — S.111–114. - Bibliogr. s.114, Abstr.

  • keywords: FPGA, zero dead-time mode, X-ray detector

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2016.7529712

2
3
  • ANN on-chip and in-pixel implementation towards pulse amplitude measurement / Anna KOZIOŁ, Robert SZCZYGIEŁ, Damian Kuznar, Krystian Strzałka, Maciej Wielgosz, Piotr MAJ // W: IWORID 2022 [Dokument elektroniczny] : 23\textsuperscript{rd} International Workshop on Radiation Imaging Detectors : 26–30 June 2022, Riva del Garda, Italy : report of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Italy : s. n.], [2022]. — S. [217]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://indico.cern.ch/event/1120714/attachments/2379010/4205064/BOOK_OF_ABSTRACTS.pdf [2022-09-01]. — Bibliogr. s. [217]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Fast algorithms for multi-level threshold dispersion and gain corrections / P. MAJ, P. KMON, A. KOZIOŁ, A. LISICKA // W: 2016 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) : 29 October - 5 November 2016, Strasbourg, France : abstract book. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Strasbourg : s. n.], [2016]. — S. [27–28] N06-23. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://2016.nss-mic.org/images/program/abstractbook.pdf [2017-09-05]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • High speed measurements system for time-resolved spectroscopy with synchrotron radiation / A. KOZIOŁ, P. MAJ // W: iWoRiD Conference 2017 : 19\textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 109. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://iworid2017.fis.agh.edu.pl/files/iworid2017-book-www.pdf [2017-09-05]. — Bibliogr. s. 109

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Methodology of automation process of wafer tests / Piotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ // W: MIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22\textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63578-06-0. — S. 139. — Abstr.. — Pełny tekst na CD-ROMie. — eISBN 978-83-63578-06-0. — S. 530–533. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 533, Abstr.

  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579

7
  • Performance of the UFXC32k photon counting detector for synchrotron radiation applications / A. KOZIOŁ, [et al.], P. GRYBOŚ, [et al.], P. MAJ, [et al.], R. SZCZYGIEŁ // W: iWoRiD Conference 2017 : 19\textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 60. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://iworid2017.fis.agh.edu.pl/files/iworid2017-book-www.pdf [2017-09-05]. — Bibliogr. s. 60

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Single photon counting hybrid pixel detectors with 85 ns dead time, 70 kfps frame rate and TSV option / P. MAJ, E. Dufresne, P. GRYBOŚ, K. KASIŃSKI, P. KMON, A. KOZIOŁ, S. Narayanan, A. Sandy, R. SZCZYGIEŁ, Q. Zhang // W: International Image Sensor Society : 2017 international image sensor workshop : May 30 - June 2, 2017, Hiroshima, Japan. — [Hiroshima : s. n.], [2017]. — S. 320–323. — Bibliogr. s. 323, Abstr.

  • keywords: TSV, X-ray imaging, CdTe, high frame rate, XPCS, high count rate, time resolved

    cyfrowy identyfikator dokumentu: