Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Marlena Dyndał, dr inż.

poprzednio: Koper

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (25%)


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (25%)


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2874-5760 orcid iD

ResearcherID: AAF-7410-2021

Scopus: 56845187800

PBN: 5e70929a878c28a047398d73

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Characterization of $a-C:N:H$, $a-SiN_{x}:H$ and $a-SiC_{x}:N_{y}:H$ layers deposited on various substrates / Katarzyna DYNDAŁ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2018 R. 39 nr 6, s. 198–202. — Bibliogr. s. 202

  • słowa kluczowe: właściwości optyczne, elipsometria spektroskopowa, PACVD, warstwy amorficzne

    keywords: PACVD, optical properties, spectroscopic ellipsometry, amorphous layers

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/28.2018.6.1

2
  • Structural and optical characterization of carbon nitride layers deposited by plasma assisted chemical vapor deposition at various conditions / Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Katarzyna KOPER, Andrzej MIKUŁA, Bouchta Sahraoui, Janusz Jaglarz // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2018 vol. 646, s. 28–35. — Bibliogr. s. 34–35, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-11-13. — tekst: https://goo.gl/mifWWf

    orcid iD
  • keywords: chemical vapor deposition, optical properties, spectroscopic ellipsometry, growth rate, carbon nitride, Fourier transform infrared spectroscopy, energy gap

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.tsf.2017.11.016