Wykaz publikacji wybranego autora

Grzegorz Cios, dr inż.

adiunkt

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4269-5456 orcid iD

ResearcherID: E-5239-2015

Scopus: 56648051900

PBN: 5e7092b9878c28a04739b748

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • EBSD study of deformation microstructure of FCC single crystals with different stacking fault energy subjected to wire drawing process / Tomasz TOKARSKI, Grzegorz CIOS, Dorota Moszczyńska, Jarosław Mizera // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 69. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: EBSD, wire drawing, FCC single crystals, TKD

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Evolution of $\gamma’$ precipitates after aging in Fe-based shape memory alloys studied by electron microscopy / M. Czerny, G. CIOS, W. Maziarz, Y. I. Chumlyakov, R. Chulist // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 135-136. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: martensitic transformation, B2 precipitates, Fe based shape memory alloys, coherency

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Ferrous single crystalline shape-memory alloy and huge superelastic effect / M. Czerny, G. CIOS, W. Maziarz, Y. I. Chumlyakov, N. Schell, R. Chulist // W: Proceedings of III European summer school on Materials science : 5.X – 9.X.2020 Dresden / ed. by Magdalena Bieda ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Poland, Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis, Germany. — Kraków–Dresden : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2020. — ISBN: 978-83-60768-90-7. — S. 20–24. — Bibliogr. s. 23–24, Abstr.

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Interfacial reactions and structural properties of explosively welded titanium/copper plates / H. Paul, R. Chulist, M. M. Miszczyk, G. CIOS, A. Gałka, W. Skuza, P. Petrzak, I. Mania // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 770 art. no. 012033, s. 1–7. — Bibliogr. s. 6–7, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-23. — 8th Global Conference on Materials Science and Engineering (CMSE2019) : 12-15 November 2019, Sanya, China. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/770/1/012033/pdf

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/770/1/012033

5

  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasi crystals, approximants, dynamical simulation

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

  • Microstructural alterations of selected materials upon interaction with focused Ga+ ion beam / M. GAJEWSKA, G. CIOS, M. WĄTROBA, W. BEDNARCZYK, R. DZIURKA, T. KOZIEŁ, P. BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — s. 87. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: microstructure, steel, FIB, metallic glass, Ga ions

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Bała, Tomasz Kozieł, Rafał Dziurka, Marta Gajewska, Wiktor Bednarczyk, Maria Wątroba

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8

  • Structure of twin boundaries in modulated Ni-Mn-Ga shape memory single crystals / R. Chulist, K. NALEPKA, A.  Sozinov, G. CIOS, A. WINKELMANN // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 47

  • keywords: EBSD, modulation, twinning, Ni–Mn–Ga

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kinga Nalepka, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9

  • The microscopic origin of superplastic strain and related phenomena in Fe-based shape memory alloys / Robert Chulist, Wojciech Maziarz, Monika Czerny, Grzegorz CIOS // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 32. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: phase transformation, precipitation, single crystal, superelasticity, iron based shape memory alloys

    cyfrowy identyfikator dokumentu: