Wykaz publikacji wybranego autora

Olaf Czyż, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0003-4451-6212 połącz konto z ORCID

ResearcherID: H-1517-2018

Scopus: 57195980337




1
  • Crystallization of FeSiB amorphous ribbons induced by laser interference irradiation / J. KUSIŃSKI, O. CZYŻ, A. RADZISZEWSKA, J. Morgiel, R. Ostrowski, M. Strzelec, K. Czyż, A. Rycyk // W: KiKM 2017 [Dokument elektroniczny] : „Krzepnięcie i krystalizacja metali 2017” : 58. międzynarodowa konferencja naukowa ; XXV Międzynarodowy Salon Przemysłu Obronnego MSPO 2017 : 6\textsuperscript{th}–8\textsuperscript{th} September 2017, Kielce–Solec Zdrój : materiały konferencyjne = ”Solidification and crystallization of metals 2017” : 58\textsuperscript{th} international scientific conference ; 25\textsuperscript{th} international defence industry exhibition MSPO 2017 : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kielce : s. n.], [2017]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [4], Abstr.

  • keywords: SEM, TEM, FeSiB, laser interference heating, amorphous alloy

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Influence of pulsed laser interference heating on crystallization of FeSiB amorphous ribbons / Olaf CZYŻ, J. KUSIŃSKI, A. RADZISZEWSKA, R. Ostrowski, A. Rycyk, M. Strzelec, K. Czyż // W: 6\textsuperscript{th} international PhD seminar Kraków - Dresden – Warsaw : 29 November–1 December 2017, Kraków : book of abstracts / ed. by Zbigniew Pędzich, Kamil Wojciechowski. — Kraków : AGH University of Science and Technology, cop. 2017. — ISBN: 978-83-65955-01-2. — S. 48

  • keywords: SEM, TEM, nano crystallization, FeSiB, laser interference heating

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Microstructure and properties of laser interference crystallized amorphous FeSiB(X) ribbons / J. KUSIŃSKI, O. CZYŻ, J. Morgiel, Cz. KAPUSTA, R. Ostrowski, M. Strzelec, K. Czyż, A. Rycyk // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 109

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: