Wykaz publikacji wybranego autora

Mohammed Imran Ahmed, dr

asystent

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 55931670600

PBN: 3977700

OPI Nauka Polska




1
  • Characterization of high resolution CMOS monolithic active pixel detector in SOI technology / M. I. AHMED, Y. Arai, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. Kapusta, T. Miyoshi, A. Takeda, M. Turala // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2015 vol. 10 iss. 5 art. no. P05010, s. [1], P05010-1–P05010-16. — Bibliogr. s. P05010-15–P05010-16, Abstr.. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/10/05/P05010/pdf/1748-0221_10_05_P05010.pdf

  • keywords: front-end electronics for detector readout, particle tracking detectors (Solid-state detectors), X-ray detectors, pixelated detectors and associated VLSI electronics

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/10/05/P05010