Wykaz publikacji wybranego autora

Ewa Pieczyńska, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 5, z ogólnej liczby 5 publikacji Autora


1
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułOtrzymywanie i właściwości warstw $a-Si:H$ do zastosowań w fotowoltaice
    AutorzyEwa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoLogistyka. — 2013 nr 4 dod.: CD Logistyka – nauka : artykuły recenzowane, s. 419–427
  • słowa kluczowe: amorficzny krzem, elipsometria, PACVD

    keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [fragment książki, 2014]
  • TytułStructure and optical properties of nitrogen-doped silicon and carbon layers deposited by PACVD
    AutorzyEwa PIECZYŃSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoEYEC monograph : 3textsuperscript{rd} European Young Engineers Conference : April 29–30textsuperscript{th} 2014, Warsaw / ed. Michał Wojasiński. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2014. — S. 224–225
  • keywords: RF PACVD, ellipsometry, optical filters

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2014]
  • TytułTermooptyczne właściwości warstw a-C:N:H
    AutorzyKatarzyna TKACZ-ŚMIECH, Janusz Jaglarz, Ewa PIECZYŃSKA, Konstanty MARSZAŁEK
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2014 R. 35 nr 5, s. 423–426
  • słowa kluczowe: warstwy a-C:N:H, elipsometria spektroskopowa, współczynniki termooptyczne, PACVD

    keywords: PACVD, a-C:N:H layers, elipsometry, thermo-optical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [referat, 2013]
  • TytułThe preparation and properties of amorphous-silicon layers (a-Si:H) for applications in photovoltaics
    AutorzyEwa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoVIII Krakow conference of young scientists 2013 : Krakow, September 26–28, 2013 : book of abstracts / AGH University of Science and Technology in Krakow, Grupa Naukowa Pro Futuro. — Krakow : Agencja Reklamowo-Wydawnicza ”OSTOJA”, 2013. — S. 11
  • keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu: