Wykaz publikacji wybranego autora

Ewa Pieczyńska, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 5, z ogólnej liczby 5 publikacji Autora


1
  • Otrzymywanie i właściwości warstw $a-Si:H$ do zastosowań w fotowoltaiceProperties of amorphous silicon layers ($a-Si:H$) deposited by plasma assisted CVD / Ewa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA // Logistyka ; ISSN 1231-5478. — 2013 nr 4 dod.: CD Logistyka – nauka : artykuły recenzowane, s. 419–427. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 426–427, Streszcz., Abstr.

  • słowa kluczowe: amorficzny krzem, elipsometria, PACVD

    keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Structure and optical properties of nitrogen-doped silicon and carbon layers deposited by PACVD / Ewa PIECZYŃSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA // W: EYEC monograph : 3\textsuperscript{rd} European Young Engineers Conference : April 29–30\textsuperscript{th} 2014, Warsaw / ed. Michał Wojasiński. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2014. — Na okł. dod.: 100 lecie odnowienia tradycji Politechniki Warszawskiej. — ISBN: 978-83-936575-0-6. — S. 224–225

  • keywords: RF PACVD, ellipsometry, optical filters

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Termooptyczne właściwości warstw a-C:N:HThermo-optical properties of a-C:N:H layers / Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Janusz Jaglarz, Ewa PIECZYŃSKA, Konstanty MARSZAŁEK // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2014 R. 35 nr 5, s. 423–426. — Bibliogr. s. 426, Streszcz., Summ.

  • słowa kluczowe: warstwy a-C:N:H, elipsometria spektroskopowa, współczynniki termooptyczne, PACVD

    keywords: PACVD, a-C:N:H layers, elipsometry, thermooptical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • The preparation and properties of amorphous-silicon layers (a-Si:H) for applications in photovoltaics / Ewa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA // W: VIII Krakow conference of young scientists 2013 : Krakow, September 26–28, 2013 : book of abstracts / AGH University of Science and Technology in Krakow, Grupa Naukowa Pro Futuro. — Krakow : Agencja Reklamowo-Wydawnicza ”OSTOJA”, 2013. — (KKMU Symposia and Conferences ; no. 8). — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-62218-84-4. — S. 11

  • keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5