Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksandra Krzyżanowska, dr inż.

poprzednio: Drozd

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1981-7067 orcid iD

ResearcherID: P-9953-2019

Scopus: 57044566800

PBN: 5e70929a878c28a047398dea

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Digitally assisted low noise and fast signal processing charge sensitive amplifier for single photon counting systems / P. GRYBOŚ, A. DROZD, R. KŁECZEK, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ // W: ICIT 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Conference on Industrial Technology : 17-19 March 2015, Sevilla. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2015. — e-ISBN: 978-1-4799-7800-7. — S. 1445–1450. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7125300 [2015-10-27]. — Bibliogr. s. 1450, Abstr.

  • keywords: ASIC, charge sensitive amplifier, low noise, single photon counting detectors, multi-channel processing

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Methodology of automation process of wafer tests / Piotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ // W: MIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22\textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63578-06-0. — S. 139. — Abstr.. — Pełny tekst na CD-ROMie. — eISBN 978-83-63578-06-0. — S. 530–533. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 533, Abstr.

  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579

4
  • Testing multistage gain and offset trimming in a single photon counting IC with a charge sharing elimination algorithm / A. KRZYŻANOWSKA, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, P. MAJ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2015 vol. 10 poz. C12003, s. [1–2], 1–8. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2015-12-01. — 17\textsuperscript{th} international workshop on Radiation imaging detectors : 28 June – 2 July 2015, Hamburg, Germany. — tekst: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/10/12/C12003/pdf

  • keywords: front-end electronics for detector readout, VLSI circuits, analogue electronic circuits, digital electronic circuits

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/10/C12003