Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksandra Krzyżanowska, dr inż.

poprzednio: Drozd

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1981-7067 orcid iD

ResearcherID: P-9953-2019

Scopus: 57044566800

PBN: 5e70929a878c28a047398dea

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Methodology of automation process of wafer tests / Piotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ // W: MIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22\textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63578-06-0. — S. 139. — Abstr.. — Pełny tekst na CD-ROMie. — eISBN 978-83-63578-06-0. — S. 530–533. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 533, Abstr.

  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579