Wykaz publikacji wybranego autora

Daniel Bachniak, dr inż.

asystent

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / metalurgia

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5650-8012 orcid iD

ResearcherID: S-7888-2016

Scopus: 56495576300

PBN: 5e7092b9878c28a04739b73a

OPI Nauka Polska

1

  • Data farming based support of hot rolling technologies design / Łukasz RAUCH, Krzysztof BZOWSKI, Daniel BACHNIAK, Jakub LIPUT, Dariusz KRÓL, Jacek KITOWSKI, Maciej PIETRZYK // W: CGW Workshop'16 : Kraków, Poland, October 24–26, 2016 : proceedings / ed. Marian Bubak, Michał Turała, Kazimierz Wiatr. — Kraków : Academic Computer Centre Cyfronet AGH, 2016. — ISBN:  978-83-61433-20-0. — S. 83–84. — Bibliogr. s. 84. — Dod. afiliacja Autorów: ACC Cyfronet AGH

  • keywords: high performance computing, optimization, hot rolling, manufacturing

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Kitowski, Maciej Pietrzyk, Łukasz Rauch, Dariusz Król, Krzysztof Bzowski, Jakub Liput

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Massively parallel approach to sensitivity analysis on HPC architectures by using scalarm platform / Daniel BACHNIAK, Jakub LIPUT, Łukasz RAUCH, Renata SŁOTA, Jacek KITOWSKI // W: Parallel Processing and Applied Mathematics : 11th international conference, PPAM 2015 : Krakow, Poland, September 6–9, 2015 : revised selected papers, Pt. 1 / eds. Roman Wyrzykowski, [et al.]. — Swizerland : Springer International Publishing, cop. 2016. — (Lecture Notes in Computer Science ; ISSN 0302-9743 ; LNCS 9573. Theoretical Computer Science and General Issues ; ISSN 2512-2010). — ISBN: 978-3-319-32148-6 ; e-ISBN: 978-3-319-32149-3. — S. 172–181. — Bibliogr. s. 180–181, Abstr.

  • keywords: sensitivity analysis, industrial application, e-infrastructure, Scalarm

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Kitowski, Renata Słota, Łukasz Rauch, Jakub Liput

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-32149-3_17

3