Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Klita, mgr inż.

pracownik inżynieryjno-techniczny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kchk, Katedra Chemii Krzemianów i Związków Wielkocząsteczkowych


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 55442800900

OPI Nauka Polska



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem1587
2017312
201611
2015211
2014422
201333
2012211
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem15213
201733
201611
201522
2014413
201333
2012211
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1578
201733
201611
2015211
2014422
201333
2012211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1569
2017321
201611
2015211
2014422
201333
2012211
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1578
2017321
201611
2015211
2014422
201333
2012211
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1578
2017321
201611
2015211
2014422
201333
2012211



1
  • Diluent changes the physicochemical and electrochemical properties of the electrophoretically-deposited layers of carbon nanotubes
2
3
  • Fabrication and characterization of oxygen-diffused titanium by Raman spectroscopy method
4
  • Metodyka badań cienkich warstw silseskwioksanowych
5
  • Morfologia i struktura cienkich warstw przestrzennego dodekafenylo silseskwioksanu
6
  • Oxidation behavior of $Zr_{43}Cu_{45}Al_{12}$ bulk metallic glass at $400-525^{\circ}C$ in air atmosphere
7
  • $\pi-\pi$ interaction as a driving mechanism in self-assembly of phenyl silsesquioxane thin films
8
  • Raman spectroscopy of $TiO_{2}$ thin films formed by hybrid treatment for biomedical applications
9
10
  • Self-assembly of phenyl-POSS thin films
11
  • Spectroscopy of dodecaphenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films
12
13
14
  • The use of $CeO_{2}-Co_{3}O_{4}$ oxides as a catalyst for the reduction of $N_{2}O$ emission
15
  • X-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films