Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Klita, mgr inż.

pracownik inżynieryjno-techniczny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kchk, Katedra Chemii Krzemianów i Związków Wielkocząsteczkowych


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 55442800900

OPI Nauka Polska





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 15, z ogólnej liczby 15 publikacji Autora


1
2
3
  • [referat, 2013]
  • TytułFabrication and characterization of oxygen-diffused titanium by Raman spectroscopy method
    AutorzyMałgorzata Lubas, Józef Jasiński, Jarosław Jasiński, Piotr JELEŃ, Łukasz KLITA
    ŹródłoXIItextsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — S. 191
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2014]
  • TytułMetodyka badań cienkich warstw silseskwioksanowych : streszczenie
    AutorzyŁukasz KLITA
    ŹródłoDokonania naukowe doktorantów 2 [Dokument elektroniczny] : materiały konferencyjne – streszczenia : materiały Konferencji Młodych Naukowców : Kraków, 12.04.2014 r.. — Kraków : CREATIVETIME, 2014. — S. 80
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2012]
  • TytułMorfologia i struktura cienkich warstw przestrzennego dodekafenylo silseskwioksanu
    AutorzyŁukasz KLITA, Bartosz HANDKE, Anna ADAMCZYK
    ŹródłoI Ogólnopolskie forum chemii nieorganicznej : Kraków 6–8 grudnia 2012 : materiały forum. — Kraków : Wydawnictwo "ATTYKA", 2012. — S. 149
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
  • [referat, 2015]
  • Tytuł$pi-pi$ interaction as a driving mechanism in self-assembly of phenyl silsesquioxane thin films
    AutorzyBartosz HANDKE, Łukasz KLITA
    ŹródłoNano conference 2015 : 7textsuperscript{th} Polish conference on Nanotechnology : 24textsuperscript{th} – 27textsuperscript{th} June 2015, Poznań, Poland : book of abstracts. — [Poznań : s. n.], [2015]. — S. 36
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2013]
  • TytułRaman spectroscopy of $TiO_{2}$ thin films formed by hybrid treatment for biomedical applications
    AutorzyPiotr Podsiad, Małgorzata Lubas, Maciej SITARZ, Józef Jasiński, Jarosław Jasiński, Piotr JELEŃ, Łukasz KLITA, Łukasz Kurpaska
    ŹródłoXIItextsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — S. 199
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
10
  • [referat, 2017]
  • TytułSelf-assembly of phenyl-POSS thin films
    AutorzyB. HANDKE, L. KLITA, N. Gębicka
    ŹródłoFifth International Conference on Multifunctional, Hybrid and Nanomaterials Conference [Dokument elektroniczny] : 6–10 March 2017, Lisbon, Portugal. — [Portugal?] : Elsevier, [2017]. — S. [65]
  • keywords: thin film, self-organization, polyhedral oligomeric silsesquioxanes, X-ray reflectivity

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • [referat, 2013]
  • TytułSpectroscopy of dodecaphenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films
    AutorzyBartosz HANDKE, Łukasz KLITA, Witold JASTRZĘBSKI, Anna ADAMCZYK, Jacek NIZIOŁ
    ŹródłoXIItextsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — S. 77
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
14
15
  • [referat, 2014]
  • TytułX-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films
    AutorzyŁukasz KLITA, Bartosz HANDKE
    ŹródłoWorkshop on X-ray scattering methods for thin film characterization [Dokument elektroniczny] : 25–26 September 2014, Prague, Czech Republic : program and abstracts / The Faculty of Mathematics and Physics of the Charles University in Prague, PANalytical B.V., Netherlands. — [Prague : s. n.], 2014. — S. [1]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: