pracownik inżynieryjno-techniczny
Faculty of Materials Science and Ceramics WIMiC-kchk
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 55442800900
OPI Nauka Polska
Metodyka badań cienkich warstw silseskwioksanowych : streszczenie — [The research methodology of thin silsesquioxane films] / Łukasz KLITA // W: Dokonania naukowe doktorantów 2 [Dokument elektroniczny] : materiały konferencyjne – streszczenia : materiały Konferencji Młodych Naukowców : Kraków, 12.04.2014 r.. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : CREATIVETIME, 2014. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-83-63058-40-1. — S. 80. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 80. — Afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza
brak zdefiniowanych słów kluczowych
cyfrowy identyfikator dokumentu:
X-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films / Łukasz KLITA, Bartosz HANDKE // W: Workshop on X-ray scattering methods for thin film characterization [Dokument elektroniczny] : 25–26 September 2014, Prague, Czech Republic : program and abstracts / The Faculty of Mathematics and Physics of the Charles University in Prague, PANalytical B.V., Netherlands. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Prague : s. n.], 2014. — S. [1]. — Tryb dostępu: http://kfkl.cz/wxray2014/abstract-book [2014-09-18]
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Bartosz Handke