pracownik inżynieryjno-techniczny
Faculty of Materials Science and Ceramics WIMiC-kchk
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 55442800900
OPI Nauka Polska
Diluent changes the physicochemical and electrochemical properties of the electrophoretically-deposited layers of carbon nanotubes / Aleksandra BENKO, Marek NOCUŃ, Katarzyna BERENT, Marta GAJEWSKA, Łukasz KLITA, Jan WYRWA, Marta BŁAŻEWICZ // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 403, s. 206–217. — Bibliogr. s. 216–217, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-01-19. — tekst: https://goo.gl/5orijo
keywords: carbon nanotubes, SEM, TEM, XPS, EIS, electrophoretic deposition
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marta Błażewicz, Marek Nocuń, Jan Wyrwa, Aleksandra Benko, Katarzyna Berent, Marta Gajewska
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2017.01.146
Fabrication and characterization of oxygen – diffused titanium using spectroscopy method / M. Lubas, M. SITARZ, J. J. Jasiński, P. JELEŃ, Ł. KLITA, P. Podsiad, J. Jasiński // Spectrochimica Acta. Part A, Molecular and Biomolecular Spectroscopy ; ISSN 1386-1425. — 2014 vol. 133, s. 883–886. — Bibliogr. s.886, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S138614251400955X/pdfft?md5=600e4059d6ba4f6c353785b4b9cb49ae&pid=1-s2.0-S138614251400955X-main.pdf
keywords: Raman spectroscopy, titanium oxide, phase transition, rutile, anatase
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maciej Sitarz, Piotr Jeleń
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.saa.2014.06.067
Fabrication and characterization of oxygen-diffused titanium by Raman spectroscopy method / Małgorzata Lubas, Józef Jasiński, Jarosław Jasiński, Piotr JELEŃ, Łukasz KLITA // W: XII\textsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — ISBN: 978-83-63663-33-9. — S. 191. — Bibliogr. s. 191
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Jeleń
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Metodyka badań cienkich warstw silseskwioksanowych : streszczenie — [The research methodology of thin silsesquioxane films] / Łukasz KLITA // W: Dokonania naukowe doktorantów 2 [Dokument elektroniczny] : materiały konferencyjne – streszczenia : materiały Konferencji Młodych Naukowców : Kraków, 12.04.2014 r.. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : CREATIVETIME, 2014. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-83-63058-40-1. — S. 80. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 80. — Afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza
Morfologia i struktura cienkich warstw przestrzennego dodekafenylo silseskwioksanu — [Morphology and structure of dodecaphenyl POSS thin films] / Łukasz KLITA, Bartosz HANDKE, Anna ADAMCZYK // W: I Ogólnopolskie forum chemii nieorganicznej : Kraków 6–8 grudnia 2012 : materiały forum. — Kraków : Wydawnictwo "ATTYKA", 2012. — ISBN: 978-83-62139-47-7. — S. 149. — Afiliacja Autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Anna Adamczyk, Bartosz Handke
Oxidation behavior of $Zr_{43}Cu_{45}Al_{12}$ bulk metallic glass at $400-525^{\circ}C$ in air atmosphere / J. DĄBROWA, L. Perriere, M. STYGAR, W. KUCZA, Ł. KLITA, M. DANIELEWSKI // Journal of Materials Engineering and Performance ; ISSN 1059-9495. — 2015 vol. 24 iss. 12, s. 4863–4869. — Bibliogr. s. 4868–4869. — Publikacja dostępna online od: 2015-11-02. — tekst: http://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11665-015-1782-9.pdf
keywords: oxidation, corrosion, rapid solidification, metallic glasses
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Danielewski, Witold Kucza, Mirosław Stygar, Juliusz Dąbrowa
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11665-015-1782-9
$\pi-\pi$ interaction as a driving mechanism in self-assembly of phenyl silsesquioxane thin films / Bartosz HANDKE, Łukasz KLITA // W: Nano conference 2015 : 7\textsuperscript{th} Polish conference on Nanotechnology : 24\textsuperscript{th} – 27\textsuperscript{th} June 2015, Poznań, Poland : book of abstracts = 7 krajowa konferencja nanotechnologii. — [Poznań : s. n.], [2015]. — S. 36
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Bartosz Handke
Raman spectroscopy of $TiO_{2}$ thin films formed by hybrid treatment for biomedical applications / Piotr Podsiad, Małgorzata Lubas, Maciej SITARZ, Józef Jasiński, Jarosław Jasiński, Piotr JELEŃ, Łukasz KLITA, Łukasz Kurpaska // W: XII\textsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — ISBN: 978-83-63663-33-9. — S. 199
Self-assembly of dodecaphenyl POSS thin films / Bartosz HANDKE, Łukasz KLITA, Wiktor NIEMIEC // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2017 vol. 666, s. 70–75. — Bibliogr. s. 75, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-09-21. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027p20054.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0039602817306179/pdfft?md5=55760c4e15e04ff97b99a98a2233e438&pid=1-s2.0-S0039602817306179-main.pdf
keywords: thin films, atomic force microscopy, self assembly, silsesquioxane, X-ray reflectivity
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Bartosz Handke, Wiktor Niemiec
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2017.08.023
Self-assembly of phenyl-POSS thin films / B. HANDKE, L. KLITA, N. Gębicka // W: Fifth International Conference on Multifunctional, Hybrid and Nanomaterials Conference [Dokument elektroniczny] : 6–10 March 2017, Lisbon, Portugal. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Portugal?] : Elsevier, [2017]. — S. [65]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://goo.gl/hR6Wz6 [2017-05-12]
keywords: thin film, self organization, polyhedral oligomeric silsesquioxanes, X-ray reflectivity
Spectroscopy of dodecaphenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films / Bartosz HANDKE, Łukasz KLITA, Witold JASTRZĘBSKI, Anna ADAMCZYK, Jacek NIZIOŁ // W: XII\textsuperscript{th} International conference on Molecular spectroscopy : from molecules to nano- and biomaterials : Kraków–Białka Tatrzańska, 8–12 September 2013 : programme – abstracts – list of authors / eds. M. Handke, A. Koleżyński. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2013. — ISBN: 978-83-63663-33-9. — S. 77
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Anna Adamczyk, Jacek Nizioł, Witold Jastrzębski, Bartosz Handke
Structural studies of octahydridooctasilsesquioxane – $H_{8}Si_{8}O_{12}$ / Bartosz HANDKE, Witold JASTRZĘBSKI, Magdalena KWAŚNY, Łukasz KLITA // Journal of Molecular Structure ; ISSN 0022-2860. — 2012 vol. 1028, s. 68–72. — Bibliogr. s. 72, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022286012005935/pdfft?md5=d9fd1fd1aa045a6a1e3da2703e23d9d5&pid=1-s2.0-S0022286012005935-main.pdf
keywords: crystal structure, X-ray diffraction, octahydridooctasilsesquioxanes, infrared spectroscopy, molecular structure
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Witold Jastrzębski, Bartosz Handke, Magdalena Kwaśny
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.molstruc.2012.06.033
Studies of dodecaphenyl polyhedral oligomeric silsesquioxane thin films on Si(100) wafers / Bartosz HANDKE, Łukasz KLITA, Jacek NIZIOŁ, Witold JASTRZĘBSKI, Anna ADAMCZYK // Journal of Molecular Structure ; ISSN 0022-2860. — 2014 vol. 1065–1066, s. 248–253. — Bibliogr. s. 253, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022286014002403/pdfft?md5=a5e6a3102df3bccb8908998eee8d5911&pid=1-s2.0-S0022286014002403-main.pdf
keywords: thin film, atomic force microscopy, ellipsometry, physical vapor deposition, grazing-incidence X-ray diffraction, Fourier transform infrared spectroscopy
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.molstruc.2014.02.053
The use of $CeO_{2}-Co_{3}O_{4}$ oxides as a catalyst for the reduction of $N_{2}O$ emission / Maria RAJSKA, Bartosz WÓJTOWICZ, Łukasz KLITA, Łukasz ZYCH, Rafał Zybała // E3S Web of Conferences [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2267-1242. — 2016 vol. 10 art. no. 00130, s. 1–6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.e3s-conferences.org/articles/e3sconf/pdf/2016/05/e3sconf_seed2016_00130.pdf [2017-02-20]. — Bibliogr. s. 5–6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-10-17. — SEED 2016 : 1st international conference on the Sustainable Energy and Environment Development : [Kraków, Poland, May 17th–19th, 2016]
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Łukasz Zych, Maria Rajska, Bartosz Wójtowicz
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1051/e3sconf/20161000130
X-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films / Łukasz KLITA, Bartosz HANDKE // W: Workshop on X-ray scattering methods for thin film characterization [Dokument elektroniczny] : 25–26 September 2014, Prague, Czech Republic : program and abstracts / The Faculty of Mathematics and Physics of the Charles University in Prague, PANalytical B.V., Netherlands. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Prague : s. n.], 2014. — S. [1]. — Tryb dostępu: http://kfkl.cz/wxray2014/abstract-book [2014-09-18]