doktorant
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Non-stoichiometry of TiO2-x thin films studied with X-ray spectroscopies / K. BIERNACKA, M. SIKORA, Cz. KAPUSTA, J. Szlachetko, K. ZAKRZEWSKA, K. KOWALSKI, E. PAMUŁA, M. RADECKA // W: E-MRS 2012 Fall Meeting [Dokument elektroniczny] : September 17–21, 2012, Warsaw. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Warsaw : s. n.], [2012]. — Dysk Flash. — S. [10–11]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader. — Tytuł przejęto ze s. tyt. (po wybraniu opcji: Symposium K)
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Czesław Kapusta, Elżbieta Pamuła, Marta Radecka, Marcin Sikora, Katarzyna Zakrzewska, Kazimierz Kowalski
cyfrowy identyfikator dokumentu: