Wykaz publikacji wybranego autora

Kamil Staszek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-3866-8466 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 52164552600

PBN: 5e7093de878c28a0473b2429

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2

  • Calibration of a multiport reflectometer using matched load and unknown loads / Kamil STASZEK // W: Proceedings of the 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) [Dokument elektroniczny] : 10–13 December 2019, Marina Bay Sands, Singapore. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2019. — USB ISBN: 978-1-7281-3516-8, Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-7281-3518-2. — e-ISBN: 978-1-7281-3517-5. — S. 1616–1618. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 1618, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-19. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047m600b5.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9038619

    orcid iD

  • keywords: calibration, six-port, reflection coefficient measurement, multi-port reflectometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/APMC46564.2019.9038619

3
4

  • Investigation on optimum parameters of six-port reflectometers / Kamil STASZEK // International Journal of Information and Electronics Engineering (IJIEE) [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2010-3719. — 2019 vol. 9 no. 1, s. 30–33. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 33, Abstr.. — tekst: http://www.ijiee.org/vol9/700-CE044.pdf

    orcid iD

  • keywords: measurement uncertainty, reflection coefficient, six-port reflectometer, power meters, dynamics of power range, multi-port measurement technique

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.18178/ijiee.2019.9.1.700

5

  • Metal oxide thin films prepared by magnetron sputtering technology for volatile organic compound detection in the microwave frequency range / Artur RYDOSZ, Andrzej BRUDNIK, Kamil STASZEK // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2019 vol. 12 iss. 6 art. no. 877, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 10–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-03-15. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/12/6/877/pdf

    orcid iD

  • keywords: gas sensors, metal oxide thin films, volatile organic compound detection, microwave frequency

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Brudnik, Artur Rydosz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma12060877

6
7
8
9

  • Tin dioxide thin film with UV-enhanced acetone detection in microwave frequency range / Artur RYDOSZ, Kamil STASZEK, Andrzej BRUDNIK, Sławomir GRUSZCZYŃSKI // Micromachines [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2072-666X. — 2019 vol. 10 iss. 9 art. no. 574, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-08-30. — tekst: https://www.mdpi.com/2072-666X/10/9/574/pdf

    orcid iD

  • keywords: gas sensors, acetone detection, microwave application, UV illumination

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Brudnik, Artur Rydosz, Sławomir Gruszczyński

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/mi10090574

10
11

  • Wideband two-port with programmable scattering parameters / Szczepan ODROBINA, Kamil STASZEK // IET Microwaves, Antennas & Propagation ; ISSN 1751-8725. — 2019 vol. 13 iss. 14, s. 2525–2530. — Bibliogr. s.  2529–2530

    orcid iD

  • keywords: calibration, 0 GHz, 5 GHz to 2, frequency 0, wideband two-port, reflection coefficients, two octave operational bandwidth, tuning range, manufactured system, design equations, transmission coefficients, programmable reflection, two port network, programmable scattering parameters, UHF filters, programmable circuits, reflectometers, two port networks, S-parameters, multi-port reflectometer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Szczepan Odrobina

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1049/iet-map.2018.5816