Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Dorosz, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8884-0981 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 53363376000

PBN: 5e7093e2878c28a0473b298d

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Radiation hardness qualification of the amplifier/discriminator ASICs production for the upgrade of the LHCb RICH detector front-end electronics / Mirco Andreotii, Mateusz BASZCZYK, [et al.], Piotr DOROSZ, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.] // W: 2018 IEEE Radiation Effects Data Workshop [Dokument elektroniczny] : Waikoloa, Hawaii, USA, 16–20 July 2018 : workshop record / IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2018. — (Workshop Record (IEEE Radiation Effects Data Workshop) ; ISSN 2154-0519). — CD-ROM ISBN 978-1-5386-8262-3. — e-ISBN: 978-1-5386-8263-0. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [4], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-12-20. — M. Baszczyk, P. Dorosz, W. Kucewicz - dod. afiliacja: INP, Krakow. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047fc0014.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8584280

    orcid iD

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Mateusz Baszczyk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSREC.2018.8584280

2

  • The study of single cells in a system based on Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, W. KUCEWICZ // W: 2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 25\textsuperscript{th} international symposium on Room-temperature semiconductor X-ray & gamma-ray detectors : 10–17 November 2018, Sydney, Australia : conference proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, [2018]. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-5386-8494-8. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-09-05. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047lt001d.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8824598

    orcid iD

  • keywords: silicon photomultiplier, fluorescence detection, single cell detection

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Mateusz Baszczyk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2018.8824598