Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Dorosz, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8884-0981 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 53363376000

PBN: 5e7093e2878c28a0473b298d

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Front-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/zrUkiF

  • keywords: silicon photomultiplier, front-end, pulse shaping, single photon

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431216

3
4
5
6
7
8
9
  • Microflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/W7mEOL

  • keywords: silicon photomultiplier, antibody detection, fluorescent dye

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431015

10
11
12
13
  • Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology / S. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.] // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/qBuhGX

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431063

14
15
16
17