Właściwości przetwornika A/C mikrokontrolera STM32 — STM32 A/D converter – metrological parameters / Jakub KOWALSKI // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVIII sympozjum = XVIII Symposium on Measuring systems – modelling and simulation : Krynica Zdrój, 18–21 września 2011 / pod red. Janusza Gajdy ; AGH Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2011. — ISBN: 978-83-61528-28-9. — S. 67–74. — Bibliogr. s. 74, Streszcz., Abstr.