Wykaz publikacji wybranego autora

Maciej Frankiewicz, mgr inż.

doktorant

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: E-7330-2012

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Measurement of the temperature inside standard integrated circuitsPomiar temperatury wewnątrz standardowych układów scalonych / Maciej FRANKIEWICZ, Andrzej KOS // Prace Instytutu Elektrotechniki = Proceedings of Electrotechnical Institute ; ISSN 0032-6216. — 2011 R. 58 z. 251, s. 109–116. — Bibliogr. s. 116, Abstr., Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: