Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Głąb, mgr inż.

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 53881319200



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem291811
201622
2015321
2014972
2013532
2012642
2011312
201011
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem2929
201622
201533
201499
201355
201266
201133
201011
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem291712
201622
201533
2014954
2013523
201266
201133
201011
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem29821
201622
2015312
2014927
2013523
2012615
201133
201011
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem29218
201622
2015321
201499
2013541
2012624
2011321
201011
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem29218
201622
2015321
201499
2013541
2012624
2011321
201011



1
  • [referat, 2014]
  • TytułBandgap voltage reference and temperature sensor in novel SOI technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Marek IDZIK, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Piotr Kapusta, Yasuo Arai, Toshinobu Miyoshi, Ayaki Takeda
    ŹródłoICSES 2014 [Dokument elektroniczny] : International Conference on Signals and Electronic Systems : Poznań, Poland, 11–13 September 2014 : international conference / Faculty of Electronics and Telecommunications. Poznan University of Technology. — [Poznan : University of Technology], [2014]. — S. [1–4]
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułCharacterization of high resolution CMOS monolithic active pixel detector in SOI technology
    AutorzyM. I. AHMED, Y. Arai, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. Kapusta, T. Miyoshi, A. Takeda, M. Turala
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2015 vol. 10 iss. 5 art. no. P05010, s. [1], P05010-1–P05010-16. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/10/05/P05010/pdf/1748-0221_10_05_P05010.pdf
3
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $mu$m technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik
    ŹródłoMIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — S. 95
4
  • [referat, 2012]
  • TytułCompensation of the temperature fluctuations in the silicon photomultiplier measurement system
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    ŹródłoMIXDES 2012 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 19textsuperscript{th} international conference : Warsaw, Poland 24–26 May, 2012 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź, 2012. — S. 300–303
5
  • [referat, 2014]
  • TytułDesign and simulations of the 10-bit SAR ADC in novel sub-micron technology 200 nm SOI CMOS
    AutorzyRoma Dasgupta, Szymon Bugiel, Sebastian GŁĄB, Marek IDZIK, Jakub MOROŃ, Piotr Kapusta
    ŹródłoMIXDES 2014 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : Lublin, Poland June 19–21, 2014 : proceedings of the 21textsuperscript{st} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2014. — S. 175–179
6
  • [referat, 2014]
  • TytułDevelopment of pixel detector in novel sub-micron technology SOI CMOS 200 nm
    AutorzySzymon Bugiel, Roma Dasgupta, Sebastian GŁĄB, Marek IDZIK, Piotr Kapusta
    ŹródłoMIXDES 2014 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : Lublin, Poland June 19–21, 2014 : proceedings of the 21textsuperscript{st} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2014. — S. 205–208
7
  • [referat, 2015]
  • TytułDevelopment of SOI pixel detector in Cracow
    AutorzySz. BUGIEL, R. DASGUPTA, S. GŁĄB, M. IDZIK, J. MOROŃ, P. Kapusta, W. KUCEWICZ, M. Turala
    ŹródłoSOIPIX2015 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the international workshop on SOI Pixel detector : Sendai, Japan, June 3–6, 2015 / ed. by Akimasa Ishikawa. — [Japan : s. n.], [2015]. — S. [1], 1–14
8
  • [referat, 2012]
  • TytułDigital library created to facilitate design of SOI detectors in Lapis Semiconductor 0.2 $mu$m SOI technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Zbigniew KORZEŃ, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK
    ŹródłoFIMB 2012 [Dokument elektroniczny] : Forum Innowacji Młodych Badaczy : [16–17 listopada 2012, Łódź] / red. Sławomir Wiak. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2012. — S. 17–20
9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2012]
  • TytułFluorescence detection in microfluidics systems
    AutorzyRafał Szczypiński, Łukasz MIK, Jerzy Kruk, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Dorota G. Pijanowska, Wojciech KUCEWICZ
    ŹródłoPrzegląd Elektrotechniczny / Stowarzyszenie Elektryków Polskich. — 2012 R. 88 nr 10b, s. 88–91
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2011]
  • TytułFour channels data acquisition system for silicon photomultipliers
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR
    ŹródłoElektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa). — 2011 R. 52 nr 12, s. 28–31
11
  • [referat, 2014]
  • TytułFront-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers
    AutorzyP. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]
12
  • [referat, 2015]
  • TytułFully differential Charge to Time Converter and fast shaper readout circuit with gain compensation for SiPM
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR
    Źródło2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : Oct. 31–Nov. 7 2015, [San Diego, California]. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — S. [1–3]
13
  • [referat w czasopiśmie, 2016]
  • TytułGain compensation technique by bias correction in arrays of Silicon Photomultipliers using fully differential fast shaper
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2016 vol. 824, s. 85–86. — tekst: http://goo.gl/PaQIHw
14
  • [referat, 2013]
  • TytułLow intensity fluorescence light measurements using silicon photomultiplier with dedicated front-end ASIC
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, Ł. MIK, W. KUCEWICZ, D. G. Pijanowska, R. Szczypiński
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2 2013, Seoul, Korea. — [Piscataway] : IEEE, [2013]. — S. [1–3]
15
  • [referat w czasopiśmie, 2016]
  • TytułMethod of signal detection from silicon photomultipliers using fully differential Charge to Time Converter and fast shaper
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2016 vol. 824, s. 248–250. — tekst: http://goo.gl/W7EicI
16
  • [referat w czasopiśmie, 2012]
  • TytułMethod of temperature fluctuations compensation in the silicon photomultiplier measurement system
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    ŹródłoElektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa). — 2012 R. 53 nr 7, s. 64–67
17
  • [referat, 2014]
  • TytułMicroflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers
    AutorzyP. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–2]
18
  • [referat w czasopiśmie, 2014]
  • TytułPrototype pixel detector in the SOI technology
    AutorzyM. I. AHMED, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. J. Kapusta, M. Turala
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2014 vol. 9 no. 2, s. [1], 1–8 article no. C02010. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/02/C02010/pdf/1748-0221_9_02_C02010.pdf
19
  • [referat, 2014]
  • TytułRadiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology
    AutorzyS. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.]
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]
20
  • [referat, 2010]
  • TytułReactive magnetron sputtering control system based on two-channel optical emission spectroscopy
    AutorzySebastian GŁĄB, Andrzej BRUDNIK, Katarzyna ZAKRZEWSKA
    ŹródłoELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — S. 141
21
22
  • [referat, 2013]
  • TytułSelf-calibrating gain stabilization method for applications using silicon photomultipliers
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — S. [1–3]
23
  • [referat, 2012]
  • TytułSelf-coincidence system for cosmic ray measurements using silicon photomultipliers
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    ŹródłoFIMB 2012 [Dokument elektroniczny] : Forum Innowacji Młodych Badaczy : [16–17 listopada 2012, Łódź] / red. Sławomir Wiak. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2012. — S. 7–11
24
  • [referat, 2011]
  • TytułSilicon photomultiplier as fluorescence light detector
    AutorzyŁukasz Mik, Wojciech KUCEWICZ, Jerzy Barszcz, Maria SAPOR, Sebastian GŁĄB
    ŹródłoMIXDES 2011 : mixed design of integrated circuits and systems : 18textsuperscript{th} international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June, 2011 : book of abstracts / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science, cop. 2011. — S. 169
25
  • [artykuł w czasopiśmie, 2011]
  • TytułSilicon photomultiplier as fluorescence light detector
    AutorzyŁukasz Mik, Wojciech KUCEWICZ, Jerzy Barszcz, Maria SAPOR, Sebastian GŁĄB
    ŹródłoElektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa). — 2011 R. 52 nr 12, s. 61–65