Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Głąb, mgr inż.

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 53881319200




1
  • Characterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $\mu$m technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik // W: MIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20\textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — Opis wg okł.. — ISBN: 978-836357801-5. — S. 95. — Abstr.. — Pełny tekst W: Mixdes 2013 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : proceedings of the 20\textsuperscript{th} international conference : Gdynia, Poland, 20–22 June 2013 / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Łódź : University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — S. 360–364. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. Tytuł przejęto ze s. tyt. — Bibliogr. s. 364, Abstr. — ISBN 978-83-63578-00-8

  • keywords: SOI, SOI detector, transistor characterization, back gate effect, burried p-well

    cyfrowy identyfikator dokumentu: