Wykaz publikacji wybranego autora

Mateusz M. Marzec, dr inż.

adiunkt

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-znpm, Zakład Nanoinżynierii Powierzchni i Biomateriałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9834-3930 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 57132446800

PBN: 5e70942e878c28a0473b7bae

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Bernasik, Magdalena Wytrwał

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 95. — Bibliogr. s. 95

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Andrzej Bernasik, Jakub Haberko

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Influence of experimental conditions on deposition of silver nanoparticles onto surface of graphene oxide / Marek WOJNICKI, Izabela MANIA, Mateusz MARZEC, Marta GAJEWSKA, Krzysztof MECH // W: ICNFM 2015 : [2\textsuperscript{nd} International Conference on Non-Ferrous Metals] : Cracow, Poland, June 22–24 2015 : book of abstracts. — [Kraków : AGH], [2015]. — S. 42–43

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Wojnicki, Krzysztof Mech, Marta Gajewska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Interdiffusion of fullerene derivative into conjugated polymer matrix upon solvent vapor annealing / Jakub Rysz, P. Dabczyński, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 125–126. — Bibliogr. s. 126

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Bernasik

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5

  • Surface properties of sterilized polyurethane/polylactide films / Paulina Bednarz, Mateusz MARZEC, Jadwiga LASKA // W: ESB 2015 [Dokument elektroniczny] : 27th European conference on Biomaterials : 30 August – 3 September, Kraków, Poland : final programme and book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : Scientific Publishing House „Akapit”, cop. 2015. — e-ISBN: 978-83-63663-63-6. — S. 513. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://esb2015.org/upload/final_programme/ESB2015-Final-Programme-and-Book-of-Abstracts.pdf [2015-09-02]. — Toż na Dysku Flash

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jadwiga Laska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

  • XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam / Jakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Andrzej Bernasik, Jakub Haberko

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

  • XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Bernasik, Jakub Haberko

    cyfrowy identyfikator dokumentu: