Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Otfinowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8000-202X orcid iD

ResearcherID: C-7749-2018

Scopus: 36554793800

PBN: 5e709328878c28a0473a3f28

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 1.2 Mfps standalone X-ray detector for Time-Resolved Experiments / P. MAJ, P. OTFINOWSKI, A. KOZIOŁ, D. Górni, Q. Zhang, P. DUDEK // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2020 vol. 15 iss. 3 art. no. C03010, s. [1], 1–6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 5–6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-06. — 21st international workshop on Radiation imaging detectors : 7–12 July, 2019, Crete, Greece. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/03/C03010/pdf

    orcid iD
  • keywords: data acquisition concepts, architecture, modular electronics, algorithms, databases, X-ray detectors, hardware, detector control systems, detector monitoring, experiment monitoring, slow-control systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/15/03/C03010

2
  • FRIC – a 50 ${\mu}m$ pixel-pitch single photon counting ASIC with Pattern Recognition algorithm in 40 nm CMOS technology / P. OTFINOWSKI, G. W. DEPTUCH, P. MAJ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2020 vol. 15 art. no. C01016, S. 1–8. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-16. — G. W. Deptuch - dod. afiliacja: Fermilab, USA. — 21\textsuperscript{th} international workshop on Radiation Imaging Detectors : 7–12 July 2019, Crete, Greece. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/01/C01016/pdf

    orcid iD
  • keywords: pattern recognition, cluster finding, digital electronic circuits, solid state, electronic detector readout concepts, data reduction methods, calibration and fitting methods

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/15/01/C01016