Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kasiński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7991-1151 orcid iD

ResearcherID: K-9171-2019

Scopus: 26967694700

PBN: 5e70922b878c28a047391153

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • 10 years anniversary of Solid-State Circuits Society chapter Poland — 10 lat oddziału Solid-State Circuits Society w Polsce / Krzysztof KASIŃSKI, Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Rafał KŁECZEK // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2022 R. 63 nr 11, s. 46–57. — Bibliogr. s. 57, Abstr., Streszcz.. — Afiliacja Autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • słowa kluczowe: ASIC, mikroelektronika, układy scalone

    keywords: integrated circuits, ASIC, microelectronics, IC, solid state circuits

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Leonard Gryboś, Piotr Kmon, Rafał Kłeczek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/13.2022.11.9

2
3

  • Flexible temperature control solution for integrated circuits testing—silicon creations Thermal Elephant / Andrzej Laczewski, Krzysztof KASIŃSKI // Electronics [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2079-9292. — 2022 vol. 11 iss. 22 art. no. 3766, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-11-16. — tekst: https://www.mdpi.com/2079-9292/11/22/3766/pdf?version=1668610595

    orcid iD

  • keywords: Peltier module, test equipment, TEC, IC temperature stabilization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/electronics11223766