Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kasiński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7991-1151 orcid iD

ResearcherID: K-9171-2019

Scopus: 26967694700

PBN: 5e70922b878c28a047391153

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • A flexible, low-noise charge-sensitive amplifier for particle tracking application / Krzysztof KASIŃSKI, Rafał KŁECZEK // W: MIXDES 2016 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of integrated circuits and systems : Łódź, Poland, June 23–25, 2016 : book of abstracts of 23\textsuperscript{rd} international conference / ed. by Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2016. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-8-3635-7808-4. — S. 49. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Abstr.. — Pełny tekst pod adresem {http://wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp==7529715}. — S.124–129. - Bibliogr. s.129, Abstr.

  • keywords: readout front-end electronics, low noise low power charge sensitive preamplifiers

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2016.7529715

2
  • STS/MUCH-XYTER2, a full-size prototype readout chip for silicon strip and GEM detectors / K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, R. SZCZYGIEŁ, P. OTFINOWSKI // W: 2016 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) : 29 October - 5 November 2016, Strasbourg, France : abstract book. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Strasbourg : s. n.], [2016]. — S. [164] N39-3. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://2016.nss-mic.org/images/program/abstractbook.pdf [2017-09-05]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Test systems of the STS-XYTER2 ASIC: from wafer-level to in-system verification / Krzysztof KASIŃSKI, Weronika Zubrzycka // W: Photonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments 2016 : 29 May – 6 June 2016, Wilga, Poland / ed. Ryszard S. Romaniuk. — USA : SPIE, cop. 2016. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 10031). — ISBN: 9781510604858 ; e-ISBN: 9781510604865. — S. 100313N-1–100313N-10. — Bibliogr. s. 100313N-9–100313N-10, Abstr.

  • keywords: front-end electronics, wafer-level testing, semiconductor detector systems, test systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2249137

4
  • Ultra fast single photon counting chip with Through Silicon Vias / P. GRYBOŚ, K. KASIŃSKI, P. KMON, R. SZCZYGIEŁ, K. Zischke // W: 2016 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) : 29 October - 5 November 2016, Strasbourg, France : abstract book. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Strasbourg : s. n.], [2016]. — S. [80–81] N19-6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://2016.nss-mic.org/images/program/abstractbook.pdf [2017-09-05]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: