Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kasiński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7991-1151 orcid iD

ResearcherID: K-9171-2019

Scopus: 26967694700

PBN: 5e70922b878c28a047391153

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Komparator do nadawania znaczników czasowych w układach odczytowych dla detektorów paskowychDiscriminator for timestamping in silicon strip detector readout integrated circuits / Krzysztof KASIŃSKI // W: WD 2012 [Dokument elektroniczny] : Warsztaty Doktoranckie oraz letnia szkoła metod numerycznych : Lublin, 09–11 lipca 2012. — Dane tekstowe. — [Lublin : s. n.], [2012]. — S. 33–34. — Tryb dostępu: http://phdw.pollub.pl/templates/wd2012/pliki/WD2012_streszczenia_referatow.pdf [2012-07-19]. — Bibliogr. s. 34, Streszcz., Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Time-over-threshold processing implementation for silicon detectors with large capacitances / K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ // W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference (NSS/MIC) & Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors [Dokument elektroniczny] : October 29 – November 3, 2012, Anaheim, California. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2012. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-2029-0. — S. 882–885. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 884–885, Abstr.. — Toż W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium and medical Imaging Conference Record (NSS/MIC) / ed. B. Yu. — (IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record ; ISSN 1082-3654). — ISBN 978-1-4673-2030-6, ISBN 978-1-4673-2028-3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Wpływ szeregowej rezystancji przewodów oraz półprzewodnikowych detektorów paskowych na parametry szumowe układu detekcyjnegoInfluence of series resistance of cables and silicon strip detectors on detector system noise performance / Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2012 R. 53 nr 3, s. 61–64. — Bibliogr. s. 64, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: