Evolution of a prototype silicon strip detector readout ASIC for the STS / K. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ // W: CBM Progress Report 2010 / eds. Volker Friese, Christian Sturm. — Darmstadt : GSI Darmstadt, cop. 2011. — ISBN: 978-3-9811298-8-5. — S. 22. — Bibliogr. s. 22. — Toż W: GSI Scientific Report 2010 [Dokument elektroniczny]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / ed. Katrin Gro$\beta$e. — Darmstadt : GSI Darmstadt, cop. 2011. — S. 232. — Tryb dostępu: {http://www.gsi.de/informationen/wti/library/scientificreport2010/PAPERS/PHN-IS-EE-04.pdf} [2011-05-19]. — Bibliogr. s. 232

Selected solutions in printed circuit boards for silicon detector readout integrated circuits testing / Krzysztof KASIŃSKI // W: MIXDES 2011 : mixed design of integrated circuits and systems : 18\textsuperscript{th} international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June, 2011 : book of abstracts / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science, cop. 2011. — S. 129. — Pełny tekst W: MIXDES 2011 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 18th international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June 2011. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science], cop. 2011. — S. 507–510. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 510, Abstr. — ISBN 978-83-932075-0-3

System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — [System for testing the application specific integrated circuits for silicon strip detectors readout] / Krzysztof KASIŃSKI // W: SECON 2011 [Dokument elektroniczny] : XXX konferencja elektroniki i telekomunikacji studentów i młodych pracowników nauki. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Polska : s. n.], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–9]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [9]

Wpływ szeregowej rezystancji przewodów oraz półprzewodnikowych detektorów paskowych cząstek i promieniowania X na parametry szumowe układu detekcyjnego — Influence of series resistance of cables and silicon strip detectors on detector system noise performance / Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVIII sympozjum = XVIII Symposium on Measuring systems – modelling and simulation : Krynica Zdrój, 18–21 września 2011 / pod red. Janusza Gajdy ; AGH Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2011. — ISBN: 978-83-61528-28-9. — S. 149–158. — Bibliogr. s. 158, Streszcz., Abstr.