Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kasiński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7991-1151 orcid iD

ResearcherID: K-9171-2019

Scopus: 26967694700

PBN: 5e70922b878c28a047391153

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Evolution of a prototype silicon strip detector readout ASIC for the STS / K. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ // W: CBM Progress Report 2010 / eds. Volker Friese, Christian Sturm. — Darmstadt : GSI Darmstadt, cop. 2011. — ISBN: 978-3-9811298-8-5. — S. 22. — Bibliogr. s. 22. — Toż W: GSI Scientific Report 2010 [Dokument elektroniczny]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / ed. Katrin Gro$\beta$e. — Darmstadt : GSI Darmstadt, cop. 2011. — S. 232. — Tryb dostępu: {http://www.gsi.de/informationen/wti/library/scientificreport2010/PAPERS/PHN-IS-EE-04.pdf} [2011-05-19]. — Bibliogr. s. 232

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Prototype readout electronics and silicon strip detector study for the silison tracking system at compressed baryonic matter experiment / Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ, Paweł GRYBOŚ // W: Photonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments 2011 [Dokument elektroniczny] : 23–29 May 2011, Wilga, Poland / ed. Ryszard S. Romaniuk. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA : SPIE], cop. 2011. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8008). — S. 800809-1–800809-10. — Tryb dostępu: http://spiedigitallibrary.org/proceedings/resource/2/psisdg/8008/1/800809_1?isAuthorized=no [2011-11-10]. — Bibliogr. s. 800809-10, Abstr.. — Tekst dostępny po zalogowaniu

  • keywords: integrated circuits, high energy physics, silicon strip detector, silicon tracker

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.904879

4
  • Selected solutions in printed circuit boards for silicon detector readout integrated circuits testing / Krzysztof KASIŃSKI // W: MIXDES 2011 : mixed design of integrated circuits and systems : 18\textsuperscript{th} international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June, 2011 : book of abstracts / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science, cop. 2011. — S. 129. — Pełny tekst W: MIXDES 2011 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 18th international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June 2011. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science], cop. 2011. — S. 507–510. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 510, Abstr. — ISBN 978-83-932075-0-3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Selected solutions in printed circuit boards for silicon detector readout integrated circuits testingWybrane rozwiązania w obwodach drukowanych do testowania układów scalonych do odczytu detektorów krzemowych / Krzysztof KASIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 12, s. 78–80. — Bibliogr. s. 80, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych[System for testing the application specific integrated circuits for silicon strip detectors readout] / Krzysztof KASIŃSKI // W: SECON 2011 [Dokument elektroniczny] : XXX konferencja elektroniki i telekomunikacji studentów i młodych pracowników nauki. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Polska : s. n.], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–9]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [9]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowychTest system for the silicon strip detector readout application-specific integrated circuits / Krzysztof KASIŃSKI // PAR Pomiary Automatyka Robotyka ; ISSN 1427-9126. — 2011 R. 15 nr 7–8, s. 70–74. — Bibliogr. s. 74, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
  • TOT02, a time-over-threshold based readout chip in 180 nm CMOS process for long silicon strip detectors / K. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ // W: 2011 IEEE Nuclear science symposium and Medical imaging conference [Dokument elektroniczny] : 18th international workshop on Room-temperature semiconductor x-ray and gamma-ray detectors : industrial exhibition/short courses/ special focus workshops : Valencia, Spain, 23–29 October 2011 / guest ed. Mokhtar Chmeissani ; The Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2011]. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-0119-0. — S. 631–636. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 636, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Wpływ szeregowej rezystancji przewodów oraz półprzewodnikowych detektorów paskowych cząstek i promieniowania X na parametry szumowe układu detekcyjnegoInfluence of series resistance of cables and silicon strip detectors on detector system noise performance / Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVIII sympozjum = XVIII Symposium on Measuring systems – modelling and simulation : Krynica Zdrój, 18–21 września 2011 / pod red. Janusza Gajdy ; AGH Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2011. — ISBN: 978-83-61528-28-9. — S. 149–158. — Bibliogr. s. 158, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: