System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — [System for testing the application specific integrated circuits for silicon strip detectors readout] / Krzysztof KASIŃSKI // W: SECON 2011 [Dokument elektroniczny] : XXX konferencja elektroniki i telekomunikacji studentów i młodych pracowników nauki. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Polska : s. n.], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–9]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [9]

System do testowania specjalizowanych układów scalonych do odczytu detektorów paskowych — Test system for the silicon strip detector readout application-specific integrated circuits / Krzysztof KASIŃSKI // PAR Pomiary Automatyka Robotyka ; ISSN 1427-9126. — 2011 R. 15 nr 7–8, s. 70–74. — Bibliogr. s. 74, Streszcz., Abstr.

Wpływ szeregowej rezystancji przewodów oraz półprzewodnikowych detektorów paskowych cząstek i promieniowania X na parametry szumowe układu detekcyjnego — Influence of series resistance of cables and silicon strip detectors on detector system noise performance / Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVIII sympozjum = XVIII Symposium on Measuring systems – modelling and simulation : Krynica Zdrój, 18–21 września 2011 / pod red. Janusza Gajdy ; AGH Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2011. — ISBN: 978-83-61528-28-9. — S. 149–158. — Bibliogr. s. 158, Streszcz., Abstr.