profesor nadzwyczajny
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kis, Katedra Informatyki Stosowanej i Fizyki Komputerowej
ORCID: brak
ResearcherID: F-9777-2010
Scopus: brak
International Journal of Biometrics ; ISSN 1755-8301 / ed. in chief Khalid SAEED. — UK : Inderscience Enterprises Ltd, 2010. — vol. 2 no. 2–4. — Numer 1/2010 – afiliacja: Białystok Technical University
brak zdefiniowanych słów kluczowych
cyfrowy identyfikator dokumentu: