Wykaz publikacji wybranego autora

Witold Skowroński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-4568-2688 orcid iD

ResearcherID: C-2235-2013

Scopus: 36549232400

PBN: 5e7093ed878c28a0473b3692

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Analiza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM[Buffer layers influence on surface topography and magnetization properties of magnetic tunnel junctions] / M. BANASIK, J. KANAK, A. ŻYWCZAK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, W. POWROŹNIK, J. WRONA, T. STOBIECKI // W: VIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — Na okładce tytuł: Seminarium STM/AFM : streszczenia. — S. 111. — Bibliogr. s. 111. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza ; J. Wrona - dod. afiliacja: Singulus Technologies AG, Kahl am Main, Germany

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: