Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Rajchel, mgr inż.

asystent

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem321
200911
200822
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem312
200911
2008211
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem321
200911
2008211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem33
200911
200822
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem312
200911
200822
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem321
200911
2008211



1
  • [referat, 2008]
  • TytułDwuwiązkowa metoda IBAD w zastosowaniu do implantów medycznych
    AutorzyJacek ROŃDA, Bogusław Rajchel, Wojciech RAJCHEL
    ŹródłoII Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]
2
  • [referat, 2008]
  • TytułModelling of Diamond-Like Carbon film by Double Beam Ion Beam Assisted Deposition
    AutorzyJacek ROŃDA, Wojciech RAJCHEL
    ŹródłoWCCM8 ; ECCOMAS 2008 : 8th World Congress on Computational Mechanics ; 5th European Congress on Computational Methods in Applied Sciences and Engineering : Venice, Italy, 30 June – 4 July 2008 : programme / eds. B. A. Schrefler, U. Perego ; Department of Structural and Transport Engineering Faculty of Engineering, Università di Padova, Department of Structural Engineering Politecnico di Milano. — Barcelona : International Center for Numerical Methods in Engineering (CIMNE), 2008. — S. 208 [informacja o wystąpieniu]
3
  • [referat w czasopiśmie, 2009]
  • TytułStress analysis of silicon-titanium coating created by ion beam sputter deposition
    AutorzyJacek ROŃDA, Wojciech RAJCHEL, Paweł WOJNAROWSKI
    ŹródłoComputer Methods in Materials Science : quarterly / Akademia Górniczo-Hutnicza. — 2009 vol. 9 no. 1, s. 110–116