Wykaz publikacji wybranego autora

Dominik Osiński, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
  • [referat w czasopiśmie, 2009]
  • TytułSensitivity analysis of divergence of ion beam with respect to changes of shape of acceleration grid in Kaufman type ion sources
    AutorzyJacek ROŃDA, Dominik OSIŃSKI
    ŹródłoComputer Methods in Materials Science : quarterly / Akademia Górniczo-Hutnicza. — 2009 vol. 9 no. 1, s. 104–109. — tekst: http://www.cmms.agh.edu.pl/repo_file.php?f_id=214
  • keywords: ion source, extraction of ion beam from plasma source, ion beam divergence

    cyfrowy identyfikator dokumentu: