Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Ślęzak, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5715-5298 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55633591700

PBN: 5e709208878c28a04738eeb2

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • LEEM – powierzchniowa mikroskopia elektronowa[LEEM – surface electron microscopy] / Tomasz Giela, Dorota Wilgocka-Ślęzak, Michał ŚLĘZAK, Józef KORECKI // W: STM/AFM 2012 : badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań : VII seminarium : Zakopane, 28 listopada – 2 grudnia 2012 : streszczenia / NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. — Kraków : NANOSAM, IF UJ, [2012]. — S. 40. — Bibliogr. s. 40. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. — Autor J. Korecki – dod. afiliacja: Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera Polskiej Akademii Nauk

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: